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XT H 225尼康 X-TEK xray檢測設(shè)備
簡要描述：零件和裝配件內(nèi)部特性的詳細(xì)拍攝和測量對(duì)于質(zhì)量控制、缺陷分析和材料研究而言至關(guān)重要。入門級(jí)XTH 225系統(tǒng)功能豐富，它配備了一個(gè)微焦點(diǎn)X射線源、可檢測中小尺寸
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